產(chǎn)品規(guī)格

1在本公司規(guī)定的潤(rùn)量條件下使用基準(zhǔn)相位因子進(jìn)行評(píng)價(jià)的性能

2相位屋值是10nm 以上時(shí)的重復(fù)精度

3希望變更中心波長(zhǎng)時(shí)，請(qǐng)另行語(yǔ)詢

4每臺(tái)相機(jī)的測(cè)屋寬匿

5希望應(yīng)對(duì)更高的搬送速度時(shí)，請(qǐng)另行咨詢

6WPA-View 是Photonic-Lattice產(chǎn)品的名稱

雙折射不均勻檢出示例

Photron離線雙折射分布檢測(cè)系統(tǒng)可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的雙折射相位差分布檢測(cè)系統(tǒng)KAMAKIRI

薄膜檢測(cè)

Photron離線雙折射分布檢測(cè)系統(tǒng)應(yīng)用于透明光學(xué)薄膜(PVA,COC,COP,TAC,PC,PET,PMMA,PI)   的光學(xué)歪曲和配向的不規(guī)則評(píng)估 ·檢測(cè)

玻璃檢測(cè) ·版狀物檢測(cè)

可用于MTF 或透射率等光學(xué)性能低下的評(píng)估，以及造成裂紋的殘留應(yīng)力分布的可視化等。另外，近 年來(lái)在車(chē)載顯示屏用高品質(zhì)玻璃的雙折射分布評(píng)估的應(yīng)用上，KAMAKIRI的面測(cè)量有顯著進(jìn)步

透明樹(shù)脂成型品檢測(cè)

在透明樹(shù)脂制品的內(nèi)部應(yīng)力、模具內(nèi)的樹(shù)脂流動(dòng)、微小缺陷可視化以及成形條件的優(yōu)良化上都有廣泛應(yīng)用。

KAMAKIRI提供的附加價(jià)值

通過(guò)高速面掃描將雙折射測(cè)量帶入新次元

從「可視化」到「檢測(cè)的自動(dòng)化」

防止不良品流出&實(shí)現(xiàn)快速的缺陷檢測(cè)

伴隨著顯示器的高清晰化和高對(duì)比度化，以及用戶的畫(huà)質(zhì)提高，在薄膜面內(nèi)也 需要更高的相位差和主軸方位的均勻性。

此外，從環(huán)保的觀點(diǎn)出發(fā)，廢棄品的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置變得十分重要。

本公司偏振光高速相機(jī)及掃描系統(tǒng)組合而成的KAMAKIRI, 可以在極短時(shí) 間內(nèi)對(duì)雙折射分布進(jìn)行高度檢測(cè)和數(shù)據(jù)記錄。

豐富的引進(jìn)實(shí)績(jī)

2014年末開(kāi)始銷(xiāo)售后，日本、韓國(guó)、中國(guó)的光學(xué)薄膜制造商和玻璃、透鏡成型制造商已經(jīng)采用了超過(guò)50臺(tái)  KAMAKIRI 系列產(chǎn)品。特別是光學(xué)薄膜制造商的生產(chǎn)線多種多樣，各自的要求不同。本公司在聽(tīng)取客戶的生 產(chǎn)線狀況的同時(shí)，提出了優(yōu)良的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。迄今為止，制作及引進(jìn)實(shí)績(jī)包含了從200mm 寬的小型系統(tǒng)到超過(guò) 5m 寬的大型系統(tǒng)。

導(dǎo)入流程

很多客戶希望在初次引進(jìn)之前預(yù)先確認(rèn)系統(tǒng)的檢查效果。

對(duì)于初次進(jìn)行樣品評(píng)估的客戶將予以免費(fèi)。(相關(guān)樣本條件和演示網(wǎng)頁(yè)的信息，請(qǐng)參閱第14頁(yè))

大部分的客戶都是先引進(jìn)臺(tái)式KAMAKIRI,  在確認(rèn)過(guò)面測(cè)量的效果之后制定專有的OK/NG 評(píng)判基準(zhǔn)并優(yōu)化判定算法之后再引進(jìn) 在線型的KAMAKIRI 系統(tǒng)。由于臺(tái)式KAMAKIRI 可以改造為在線型KAMAKIRI,  對(duì)于消除運(yùn)用上的疑難問(wèn)題，并以少量的投入建 立檢查體制非常有利。

定期檢查 · 定期維護(hù)

建立了服務(wù)體制，使客戶的裝置能夠經(jīng)常舒適地運(yùn)用，并且能夠應(yīng)對(duì)突發(fā)性的修理等。根據(jù)客戶的機(jī)種型號(hào) 和使用計(jì)劃，定期進(jìn)行檢查并提供需更換的零部件。引進(jìn)時(shí)請(qǐng)參考《定期檢查維護(hù)服務(wù)合同》。

KAMAKIRI產(chǎn) 品 一 覽

我們提供用于在線品質(zhì) ·生產(chǎn)管理的在線型系列，以及適用于抽樣檢查及研發(fā)的臺(tái)式系列。

實(shí)時(shí)檢測(cè)畫(huà)面顯示

通過(guò)實(shí)時(shí)顯示光學(xué)變形、寬度方向及輸送方向的趨勢(shì) 圖，能夠在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)及時(shí)了解所需信息。

數(shù)據(jù)處理流程以及應(yīng)用示意圖

適用于客戶生產(chǎn)線的客制化

提供適用于客戶生產(chǎn)線的系統(tǒng)運(yùn)用及結(jié)構(gòu)。

根據(jù)需要檢測(cè)的不均程度以及產(chǎn)量決定空間分辨率以及存儲(chǔ)容量。 另外，根據(jù)生產(chǎn)線和工廠空間，設(shè)計(jì)制作框體。

如果商談內(nèi)容含有機(jī)密信息，可以簽署保密協(xié)議(NDA),    請(qǐng)隨時(shí)與我們聯(lián)系。

在線的部分檢查及試制生產(chǎn)線的評(píng)估

KAMAKIRI 雙折射測(cè)量模塊

可安裝在其他設(shè)備上，構(gòu)成專用小型檢查系統(tǒng)

KAMAKIRI 系統(tǒng)的測(cè)量保證及檢查體制

本公司設(shè)有相位差、主軸方位的校正系統(tǒng)，利用該系統(tǒng)校正過(guò)的標(biāo)準(zhǔn)相位子可以對(duì)客戶 的設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)維護(hù)。

此外，我們也會(huì)對(duì)測(cè)量性能進(jìn)行定期檢查。

本公司也提供備選的簡(jiǎn)易標(biāo)準(zhǔn)相位子，以供客戶進(jìn)行日常檢測(cè)。

KAMAKIRIX-Stage

WPA-KAMAKIRI

KAMAKIRI MEM-AS

Photron 的光學(xué)產(chǎn)品介紹

除了適用于薄膜、玻璃、樹(shù)脂成型品評(píng)估的KAMAKIRI 系列以外，我們 還提供面向生產(chǎn)品質(zhì)管理和生產(chǎn)技術(shù)評(píng)價(jià)的紅外線相機(jī)系統(tǒng)。

(此類(lèi)產(chǎn)品只在日本國(guó)內(nèi)銷(xiāo)售)